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發(fā)布時(shí)間：2021-12-08 10:05:14
如今SF6氣體絕緣的充氣柜數(shù)量的日趨增多，以及前進(jìn)其工作可靠性專項(xiàng)作業(yè)在電力體系中的深入開展，缺陷和風(fēng)險(xiǎn)根本在出產(chǎn)制造、出廠實(shí)驗(yàn)、交接及工作維護(hù)等各環(huán)節(jié)中就被發(fā)現(xiàn)和消除，然后極大程度避免了事端的重復(fù)發(fā)生，但是SF6氣體絕緣的充氣柜漏氣現(xiàn)象仍是難以避免和徹底根絕的常見問題。
SF6氣體絕緣的充氣柜發(fā)生泄露的主要原因包含：出產(chǎn)工藝不良，外殼上有砂眼，密封材料質(zhì)量欠佳；現(xiàn)場安裝質(zhì)量不高，密封面處理不到位；設(shè)備工作中發(fā)生振動(dòng)，如開關(guān)分合、變壓器工作中的振動(dòng)，密封材料老化等原因。
那么怎么檢測充氣柜SF6氣體泄露呢？
肥皂泡法
在疑似點(diǎn)涂改肥皂水，調(diào)查是否發(fā)生氣泡，據(jù)此判別是否存在SF6氣體泄露。
優(yōu)缺陷
檢測方法簡單，無需貴重儀器，但檢測精度差，檢測具有盲目性，檢測周期長不適合普測。
包扎法
在疑似點(diǎn)包扎塑料袋，靜置規(guī)矩的時(shí)間后選用定量檢測儀檢測包扎部位的SF6氣體濃度來判別是否漏氣。
優(yōu)缺陷
可以完結(jié)定量檢測，但容易遭到環(huán)境溫度、氣壓、包扎塑料袋體積、檢測儀器等的影響。
真空法
關(guān)于沒有充氣的SF6氣體絕緣的充氣柜，將設(shè)備各部分抽真空至約133Pa，并靜置4h及以上，經(jīng)過檢測真空度下降與否判別是否漏氣。
優(yōu)缺陷
適用于出廠檢測，不能完結(jié)帶電檢驗(yàn)，使用的局限性較大。
鹵化物檢測法
運(yùn)用金屬鉑的“鹵素效應(yīng)”判別檢測點(diǎn)是否漏氣。
優(yōu)缺陷
可以定量計(jì)算出泄露點(diǎn)的泄露速度、氣體濃度等詳細(xì)參數(shù)，測量精度不高。
超聲波法
在溫度、壓強(qiáng)相同的條件下，求待測氣體濃度便可轉(zhuǎn)化為求混合氣體均勻聲速的問題，選用相位差法測聲速，即在發(fā)射超聲波的一起開端脈沖計(jì)數(shù)，直到檢測到回波信號(hào)的幅值超越一定閾值后停止計(jì)數(shù)，再與計(jì)數(shù)周期相乘便得到超聲傳達(dá)時(shí)間，固定的傳達(dá)間隔除以該時(shí)間即為聲速。
優(yōu)缺陷
測量精度受振動(dòng)、噪聲攪擾以及超聲波在氣體介質(zhì)中衰減的影響較大。
聲波法
運(yùn)用聲音在SF6氣體中的傳達(dá)速度小于在大氣中的傳達(dá)速度的特點(diǎn)進(jìn)行檢測。
優(yōu)缺陷
檢測方法簡單，但靈敏度很低，受限于環(huán)境中SF6氣體的所占比例。
氣敏半導(dǎo)體法
運(yùn)用氣敏半導(dǎo)體吸附氣體后阻值的改動(dòng)來斷定所吸附氣體的品種和濃度,然后判別是否發(fā)生泄露。
優(yōu)缺陷
運(yùn)用歷史比較久，技術(shù)相比照較成熟，檢測靈敏度尚可。
電化學(xué)法
運(yùn)用電化學(xué)氣體傳感器測量電流值，經(jīng)過直接計(jì)算SF6氣體在被檢部位附近環(huán)境中的濃度完結(jié)。
優(yōu)缺陷
測量精度高，但是傳感器容易發(fā)生飽滿，而且零點(diǎn)漂移會(huì)跟著測量精度的前進(jìn)而增大。
熱導(dǎo)檢測器法
經(jīng)過不同氣體后，熱敏元件的阻值改動(dòng)不同，檢測電路中電流也隨之改動(dòng)，依據(jù)電流改動(dòng)值和氣體的熱導(dǎo)系數(shù)可以計(jì)算出SF6氣體濃度。
優(yōu)缺陷
檢測效果受氣流穩(wěn)定性的影響較大，檢測效果不直觀，需求計(jì)算剖析，不便于現(xiàn)場使用。
示蹤法
運(yùn)用SF6氣體的吸附特性，參加可被SF6分子吸附的物質(zhì)進(jìn)行符號(hào)，直接測量SF6氣體濃度。
優(yōu)缺陷
檢測精度高，需求運(yùn)用輔佐氣體，僅限于實(shí)驗(yàn)室研討，在現(xiàn)場難以操作。
濕敏傳感器法
運(yùn)用漏點(diǎn)處會(huì)發(fā)生溫度與濕度改動(dòng)以及改動(dòng)與泄露速度呈正相關(guān)的特征來承認(rèn)漏點(diǎn)以及泄露速度和嚴(yán)重程度。
優(yōu)缺陷
對溫度、濕度傳感器的靈敏度要求高，且無典型使用案例，僅處于理論研討階段。
紫外線電離法
經(jīng)過比照檢測儀器的輸入與輸出波形來判別是否發(fā)生泄露，輸出波形的滯后時(shí)間代表泄露的SF6量。
優(yōu)缺陷
SF6泄露程度可以經(jīng)過波形直觀反應(yīng)，測量精度尚待前進(jìn)。
激光成像法
對被檢部位發(fā)射激光，反向散射激光進(jìn)入激光開麥拉成像體系，SF6氣體會(huì)吸收激光能量，運(yùn)用反向散射激光差異引起的成像差異來斷定是否存在泄露。
優(yōu)缺陷
屬于直接目視檢測，檢測效果精度高，但激光器本錢高且體積巨大，不便于現(xiàn)場檢測。
紅外成像法
運(yùn)用SF6氣體比空氣對特定波段紅外線有更強(qiáng)的吸收能力這一特性，選用后向散光成像技術(shù)進(jìn)行成像。當(dāng)被檢測區(qū)域存在SF6氣體時(shí)，由于SF6氣體對10.3~10.7μm波段的紅外光線具有激烈的吸收效果，所以此刻反射到檢測設(shè)備的紅外線能量因吸收效果而急劇地削弱，SF6氣體在檢測儀的閃現(xiàn)屏上閃現(xiàn)為黑色的煙霧狀。此刻，檢測人員便可以便當(dāng)直觀地定位SF6氣體泄露源。
優(yōu)缺陷
非觸摸式帶電檢驗(yàn)，關(guān)于微量SF6氣體泄露可以實(shí)時(shí)捕捉、清楚成像、準(zhǔn)承認(rèn)位。
氦質(zhì)譜檢漏法
運(yùn)用氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)，選用真空法對被檢工件進(jìn)行漏率檢測，并對氦氣進(jìn)行回收運(yùn)用。首要對對被檢工件抽空后充入一定壓強(qiáng)的氦氣，真空箱與檢漏儀的檢漏口相接，若被檢工件有泄露，則漏入真空箱的氦氣可經(jīng)過檢漏儀測出。與被檢工件相連的是充氣回收設(shè)備，在檢漏前后別離完結(jié)氦氣的充注和回收。最終檢測結(jié)束產(chǎn)品內(nèi)充注SF6。
優(yōu)缺陷
檢測精度最高，需求運(yùn)用輔佐氣體（氦氣），可靠型好、檢測不受溫度、濕度等環(huán)境影響。選用自動(dòng)化設(shè)備，不需求人工干預(yù)即可完結(jié)自動(dòng)化出產(chǎn)，此方法廣泛使用于開關(guān)柜、充氣柜出廠檢驗(yàn)。缺陷是設(shè)備相對昂貴，一次性投入較高。
